老化測試高溫箱
更新時(shí)間：2025-07-14 點(diǎn)擊量：90
老化測試高溫試驗(yàn)箱詳解
老化測試高溫試驗(yàn)箱（Aging Test Chamber或High Temperature Test Chamber）是一種用于模擬高溫環(huán)境，測試材料、電子元器件、PCB、汽車部件等產(chǎn)品在長期高溫條件下的可靠性、耐久性及性能變化的專業(yè)設(shè)備。廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天、化工、光伏等行業(yè)。
一、老化測試高溫試驗(yàn)箱的核心功能
1. 主要測試目的
| 測試目標(biāo) | 應(yīng)用場景 |
|---|
| 高溫老化壽命評估 | 評估產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的使用壽命（如電子元件在85℃/1000小時(shí)后的性能衰減）。 |
| 材料熱穩(wěn)定性測試 | 檢測塑料、橡膠、涂層等材料在高溫下是否變形、開裂或變色（如汽車內(nèi)飾件耐熱測試）。 |
| 加速老化試驗(yàn) | 通過高溫加速產(chǎn)品老化，縮短測試周期（如LED光源在高溫下的光衰測試）。 |
| 環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS） | 剔除早期失效產(chǎn)品（如軍工電子器件的高溫篩選）。 |
2. 關(guān)鍵性能參數(shù)
| 參數(shù) | 典型范圍 | 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)參考 |
|---|
| | IEC 60068-2-2（高溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)） |
| | GB/T 2423.2（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)） |
| | MIL-STD-810G（美軍標(biāo)環(huán)境測試方法） |
| | ISO 16750-4（汽車電子氣候環(huán)境測試） |
二、設(shè)備結(jié)構(gòu)與工作原理
1. 核心組成部分
| 模塊 | 功能說明 |
|---|
| 加熱系統(tǒng) | 采用不銹鋼電熱管或陶瓷加熱器，PID智能控溫（精度±0.5℃）。 |
| 風(fēng)道設(shè)計(jì) | 強(qiáng)制對流循環(huán)（水平/垂直氣流），確保溫度均勻性（如汽車級測試要求±1.5℃）。 |
| 控制系統(tǒng) | 觸摸屏PLC或微電腦控制，支持多段編程（如85℃保持4h→125℃保持8h）。 |
| 安全保護(hù) | 超溫報(bào)警、漏電保護(hù)、風(fēng)機(jī)過載保護(hù)（符合CE/UL認(rèn)證）。 |
| 觀測窗口 | 雙層鋼化玻璃窗（帶照明），實(shí)時(shí)觀察樣品狀態(tài)。 |
2. 工作流程示例（以PCB老化測試為例）
樣品裝載
將PCB板置于試驗(yàn)箱擱板上，避免遮擋風(fēng)道。參數(shù)設(shè)置
輸入溫度曲線（如125℃±2℃，持續(xù)96小時(shí)）。啟動測試
設(shè)備自動升溫并保持恒溫，記錄實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)。結(jié)果分析
測試后檢查PCB的焊點(diǎn)可靠性、元件參數(shù)漂移等。
三、行業(yè)應(yīng)用案例
1. 電子元器件老化測試
測試條件
125℃/1000小時(shí)（模擬10年使用壽命）。判定標(biāo)準(zhǔn)
失效比例＜1%（如AEC-Q200 Grade 1認(rèn)證要求）。
2. 汽車部件耐高溫測試
測試標(biāo)準(zhǔn)
ISO 16750-4（85℃/85%RH + 循環(huán)溫度沖擊）。案例
3. 光伏組件老化試驗(yàn)
測試要求
IEC 61215（85℃濕熱老化+UV輻照，模擬25年戶外老化）。
四、選型與使用注意事項(xiàng)
1. 選型關(guān)鍵因素
| 需求 | 推薦配置 |
|---|
| 100L容積，溫度范圍RT+10℃~200℃（經(jīng)濟(jì)型）。 |
| 500L容積，溫度范圍-40℃~150℃（帶快速溫變功能）。 |
| 定制化方案（如+500℃高溫箱，帶惰性氣體保護(hù)）。 |
2. 維護(hù)與校準(zhǔn)
日常維護(hù)
校準(zhǔn)要求
每年需第三方校準(zhǔn)（如CNAS認(rèn)證機(jī)構(gòu)），確保溫度精度符合JJF 1101-2019。
